SN74ABT8245DWG4

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC

Производитель: Texas Instruments Категории продуктов: Специализированная логика Количество: 1600 Статус RoHS: Поддержка

Основная информация

Номер детали:
SN74ABT8245DWG4
Упаковка:
-
Упаковка:
Tube
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC

Параметры продукта

Рабочая температура -40°C ~ 85°C
Статус детали Discontinued at
Тип монтажа Surface Mount
Количество битов 8
Напряжение питания 4.5V ~ 5.5V
Корпус 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Поставщик Устройство Корпус 24-SOIC
Логический тип Scan Test Device with Bus Transceivers