SN74LVTH18502APMG4

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Производитель: Texas Instruments Категории продуктов: Универсальные функции шины Количество: 1600 Статус RoHS: Поддержка

Основная информация

Номер детали:
SN74LVTH18502APMG4
Упаковка:
-
Упаковка:
Tray
Описание:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Параметры продукта

Статус детали Obsolete
Рабочая температура -40°C ~ 85°C
Тип монтажа Surface Mount
Корпус 64-LQFP
Поставщик Устройство Корпус 64-LQFP (10x10)
Логический тип ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers