SNJ54BCT8245AFK

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC

Производитель: Texas Instruments Категории продуктов: Специализированная логика Количество: 1600 Статус RoHS: Поддержка
PDF
SNJ54BCT8245AFK

Основная информация

Номер детали:
SNJ54BCT8245AFK
Упаковка:
-
Упаковка:
Tube
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC

Параметры продукта

Статус детали Active
Тип монтажа Surface Mount
Рабочая температура -55°C ~ 125°C
Количество битов 8
Напряжение питания 4.5V ~ 5.5V
Логический тип Scan Test Device with Bus Transceivers
Корпус 28-CLCC
Поставщик Устройство Корпус 28-LCCC (11.43x11.43)