AM2954DC

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 20SBDIP

制造商: Advanced Micro Devices 产品分类: 专用逻辑 数量: 1699 RoHS 状态: 支持

基础信息

零件编号:
AM2954DC
封装:
-
包装:
Bulk
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 20SBDIP

产品参数

安装类型 Through Hole
零件状态 Active
工作温度 0°C ~ 70°C
电源电压 4.75V ~ 5.25V
位数 8
封装 / 外壳 20-CDIP (0.300", 7.62mm)
逻辑类型 Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
供应商器件封装 20-SBDIP