SN74ABT8543DWRG4

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-SOIC

制造商: Texas Instruments 产品分类: 专用逻辑 数量: 1600 RoHS 状态: 支持

基础信息

零件编号:
SN74ABT8543DWRG4
封装:
-
包装:
Tape & Reel (TR)
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-SOIC

产品参数

零件状态 Obsolete
工作温度 -40°C ~ 85°C
安装类型 Surface Mount
位数 8
电源电压 4.5V ~ 5.5V
封装 / 外壳 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装 28-SOIC
逻辑类型 Scan Test Device with Registered Bus Transceiver