SN74LVTH18502APM
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
基础信息
- 零件编号：
- SN74LVTH18502APM
- 封装：
- -
- 包装：
- Tray
- 描述：
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
产品参数
| 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
|---|---|
| 零件状态 | Active |
| 安装类型 | Surface Mount |
| 封装 / 外壳 | 64-LQFP |
| 供应商器件封装 | 64-LQFP (10x10) |
| 逻辑类型 | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |