SN74LVTH18502APMG4

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

制造商: Texas Instruments 产品分类: 通用总线功能 数量: 1600 RoHS 状态: 支持

基础信息

零件编号:
SN74LVTH18502APMG4
封装:
-
包装:
Tray
描述:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

产品参数

零件状态 Obsolete
工作温度 -40°C ~ 85°C
安装类型 Surface Mount
封装 / 外壳 64-LQFP
供应商器件封装 64-LQFP (10x10)
逻辑类型 ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers