SNJ54ABT8652JT

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP

制造商: Texas Instruments 产品分类: 专用逻辑 数量: 1600 RoHS 状态: 支持

基础信息

零件编号:
SNJ54ABT8652JT
封装:
-
包装:
Tube
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP

产品参数

安装类型 Through Hole
零件状态 Active
工作温度 -55°C ~ 125°C
位数 8
电源电压 4.5V ~ 5.5V
供应商器件封装 28-CDIP
逻辑类型 Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
封装 / 外壳 28-CDIP (0.300", 7.62mm)